电子元器件寿命模型电子元器件寿命模型公式舒兰

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1、一种电子元器件寿命预测方法与流程。29045388发布日期：:53阅读：251来源：国知局。本发明属于电子元器件寿命预测技术，尤其涉及一种电子元器件寿命预测方法。电子元器件是航天装备的重要组成部件，其质量的可靠性和稳定性可能决定航天产品的成败。对电子元器件进行寿命预测，对于制定寿命试验的规划，合理地确定所需的试验时间及经费，都有十分重要的指导作用。

2、在当前多型号任务并行研制、高强度发射的新环境下，传统试验测试技术手段承受了越来越大的效率与成本压力，如任务周期耗时、耗工、耗料，跟不上快节奏研制需求。测试数据没有集中存储、统筹利用，业务价值无法挖掘。业务过程严重依赖人工处理，数据质量引用不便、过程追溯困难、处理效率低下等。

电子元器件寿命模型相关拓展

电子元器件寿命模型公式

数目前的寿命预测中，常用的方法有beyes方法。beyes法是基于统计的预测方法，但该方法需要大规模的数据来保证结果的准确性，而在实际应用中，受限于寿命预测的成本及时间。本发明要解决的技术问题是：提出一种电子元器件寿命预测方法，以解决现有技术对电子元器件寿命预测中，常用的方法有beyes方法。beyes法是基于统计的预测方法，但该方法需要大规模的数据来保证结果的准确性，而在实际应用中，受限于寿命预测的成本及时间等计算问题。

一种电子元器件寿命预测方法，它包括：。步骤1、数据收集：收集批次元器件输入的测试数据、元器件贮存环境数据、寿命试验数据和特性测试数据，得到寿命预测的数据源。步骤2、数据融合：将寿命预测的数据源数据进行数据融合，得到数据融合数据文件。

电子元器件存储寿命模型

一种电子元器件寿命预测方法与流程。29045388发布日期：:53阅读：253来源：国知局。本发明属于电子元器件寿命预测技术，尤其涉及一种电子元器件寿命预测方法。电子元器件是航天装备的重要组成部件，其质量的可靠性和稳定性可能决定航天产品的成败。对电子元器件进行寿命预测，对于制定寿命试验的规划，合理地确定所需的试验时间及经费，都有十分重要的指导作用。

在当前多型号任务并行研制、高强度发射的新环境下，传统试验测试技术手段承受了越来越大的效率与成本压力，如任务周期耗时、耗工、耗料，跟不上快节奏研制需求。测试数据没有集中存储、统筹利用，业务价值无法挖掘。业务过程严重依赖人工处理，数据质量引用不便、过程追溯困难、处理效率低下等。

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